PHI
Spettrometri XPS, AES, TOF-SIMS, dynamic SIMS.

Veeco
Microscopia AFM / SPM Profilometri a Stilo Profilometri Ottici

Sentech
Misure di spessore mediante riflettometria, ellissometria a singola lunghezza d'onda ed ellissometria spettroscopica. Applicazioni dedicate su celle solari

MMR Technologies
Produttore di sistemi di caratterizzazione elettrica di dispositivi e materiali, campioni biologici e medici, in vuoto, in ambiente criogenico e ad alta temperatura. Possibilità di configurazioni custom e modulari.

Hysitron
Sistemi, sia stand-alone che integrati su AFM, per misura di nano-durezza, nano-scratch, adesione, frizione etc. tramite nano-indentazione. Punta a controllo capacitivo (brevettata).

Staib
RHEED per applicazioni in MBE, RHEED per applicazioni in laser ablation PEEM; cannoni elettronici per applicazioni varie.