Nanophoton
Sistemi Raman che permettono di ottenere immagini con un metodo innovativo. L’unico esistente al mondo!

Anasys
Caratterizzazione termica, meccanica e chimica fino alla NANOSCALA!

Atomic Force Microscopy Ultra Flat
L'AFM Super Flat combina la potenza del SEM con quella dell'AFM. In-situ è possibile integrare precise misure AFM di tipo topografico e di Lateral Force.

Accurion - Nanofilm
Imaging Ellipsometry supera i limiti degli ellissometri classici calcolando lo spessore del film e le sue caratteristiche ottiche combinando l'ellissometria con la microscopia. Il risultato sono immagini dall'ellissometro ad alto contrasto con risuluzione laterale fino a 1µm.

PHI
Spettrometri XPS, AES, TOF-SIMS.

Sentech
Misure di spessore mediante riflettometria, ellissometria a singola lunghezza d'onda ed ellissometria spettroscopica. Applicazioni dedicate su celle solari

MMR Technologies
Produttore di sistemi di caratterizzazione elettrica di dispositivi e materiali, campioni biologici e medici, in vuoto, in ambiente criogenico e ad alta temperatura. Possibilità di configurazioni custom e modulari.

Bruker
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